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专利详情
真空激光高分辨变形测量系统
申请号：
申请公布号：
申请日：
申请公布日：
2017-01-17
申请（专利权）人：
BI527435768
专利代理机构：
分类号：
专利介绍
该系统基于三点准直原理，采用真空激光技术，实现对大尺度建筑变形的精密测量。它将整个测量光路置于真空管道之中，接收器使用面阵CCD，配以变焦镜头和定标系统，可对水平和垂直变形量同时进行高精度测量，相对精度可达10－7（如对1000m长的直线型混泥土坝，测量精度为0.1mm）。整个系统按工业标准要求设计，实现全封闭，无裸露部件，各个组成部分由主控机控制全自动运行。可在恶劣环境下进行长期稳定的无人值守运行，对微小变形实现高精度监测。
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